[实用新型]一种载盘内芯片测试装置

摘要

本实用新型公开了一种载盘内芯片测试装置，包括一个安装支撑底座，所述安装支撑底座的上表面固定安装有一个安装平台机构，本实用新型的有益效果是：通过对测试机构的结构合理布置，能够特定环境下，对载盘和芯片进行精准定位后在测试，实现了一种用载盘将产品输送进特定环境后，在特定环境状态下，首先对装芯片的载盘精准定位，然后对载盘内的芯片定位，最后对芯片进行电性测试，以检测电子元器件性能的装置，同时通过载盘和芯片的高速精准定位方法，以及电性测试机构对芯片触点进行高速精确接触测试，通过实施本发明，能够在特定环境状态下，实现了测试检测环境误差较小，电子元件测试性能参数误差小，节省人力，提高了生产效率。