[实用新型]一种晶片生产用多功能检查台有效

专利信息
申请号: 202022569548.1 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN213600831U 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 孙健;陈晓达 申请(专利权)人: 河北胤丞光电科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/303;H01L21/66
代理公司: 北京壹川鸣知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11765 代理人: 林潮
地址: 063020 河北省唐山*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 实用新型公开了一种晶片生产用多功能检查台,包括测试机,所述测试机上端面中心处靠前端和靠后端的位置分别固定设置有操作板和操作屏,所述测试机上端面位于操作板的一侧中心处开设有密封槽,所述测试机上端面位于密封槽的前端和后端均开设有滑槽,所述测试机上端面位于密封槽的上端活动设置有滑板,所述滑板下端面靠前侧和靠后侧均固定设置有滑块,两个所述滑块远离滑板的一端分别活动设置在滑槽内,所述密封槽底面中心处固定设置有探针卡,所述探针卡上端面中心处开设有探槽。本实用新型公开了一种晶片生产用多功能检查台,该新型晶片生产用多功能检查台检测的更加全面,效率更高。
搜索关键词: 一种 晶片 生产 多功能 检查
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