[实用新型]一种高精度芯片测试时间成本分析系统有效
| 申请号： | 202022657165.X | 申请日： | 2020-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN213600832U | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 张经祥;魏津;杜宇 | 申请（专利权）人： | 胜达克半导体科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙) 31293 | 代理人： | 刘朵朵 |
| 地址： | 201799 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本实用新型公开了一种高精度芯片测试时间成本分析系统，包括FPGA计时模块；FPGA计时模块分别与集成电路自动测试机和待测试模块连接；FPGA计时模块通过数据传输模块与上位机实现数据通讯。本实用新型的高精度芯片测试时间成本分析系统，采用硬件计时的方式即设置FPGA计时模块实现对芯片测试时间的高精度计时，测试精度可以达到10 |
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| 搜索关键词： | 一种 高精度 芯片 测试 时间 成本 分析 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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