[实用新型]一种测试结构及显示面板

摘要

本申请适用于液晶显示技术领域，提供了一种测试结构及显示面板，测试结构包括多条测试走线、多个开关单元以及控制单元。测试走线用于接收待测试信号线的信号；开关单元与测试走线一对一连通，相邻的两个开关单元对应连通，所述开关单元用于控制待测试信号线与测试走线连通；控制单元与其中一个开关单元连通，用于控制多个所述开关单元导通。本申请的测试结构，通过将相邻的两个开关单元连通，其中一个开关单元与控制单元连通，以用于对多个开关单元进行控制，并通过控制开关单元导通以将对应的待测试信号线上的信号导入到相应的测试走线中，当测试完成后，只需要将控制单元激光切割掉即可，提高了切割效率。