[实用新型]一种用于IC邦定偏位检测的检测装置有效

专利信息
申请号: 202023094174.9 申请日: 2020-12-21
公开(公告)号: CN214122040U 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 朱庆华;华卫华;黄双平 申请(专利权)人: 深圳市全洲自动化设备有限公司
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956;G01N21/01
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 彭西洋;袁曼曼
地址: 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种用于IC邦定偏位检测的检测装置,包括底座、X轴运动机构、Y轴运动机构、Z轴调节机构、检测平台和检测机构;X轴运动机构设置在所述底座上,用于牵引Y轴运动机构沿X轴运动机构的运行方向运动;Y轴运动机构设置在X轴运动机构上,用于牵引检测平台沿Y轴运动机构的运行方向运动;检测平台设置在Y轴运动机构上,用于安放产品;Z轴调节机构于检测平台后方设置在底座上,用于牵引检测机构上升或下降;检测机构设置在Z轴调节机构上,用于采集产品的图像信息以实现对产品的芯片邦定偏位检测。本实用新型实现自动化全检,有效解决了漏检问题,提高了检测准确度和检测效率,有效降低了产品的生产成本。
搜索关键词: 一种 用于 ic 邦定偏位 检测 装置
【主权项】:
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