[实用新型]一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置有效
| 申请号： | 202023104984.8 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN214011094U | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 乔森 | 申请（专利权）人： | 森诺检测认证技术服务（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/00 | 分类号： | G01N25/00;G01N17/00 |
| 代理公司： | 南昌逸辰知识产权代理事务所(普通合伙) 36145 | 代理人： | 刘林艳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置，属于电子测试技术领域，以解决现有的高温高湿测试装置一般是在封闭的腔室内进行试验，在使用过程中，反复升温降温需要消耗大量的能量，造成了极大的浪费的问题，包括测试机主体；所述测试机主体的顶部内侧固定连接有一组工件输送驱动件；所述测试机主体的中部转动连接有一组转位旋转轴；所述测试机主体的内部圆周阵列排布滑动连接有四对封闭分隔门。本实用新型通过设置操作、试验腔、缓冲腔，分别实现对电子元器件的装卸、升温、试验、降温等，大大降低了在使用中试验腔中的温度和湿度变化，减少了热量的流失，更加节能，试验速度更快，提高了试验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 电子元件 高温 装置 | ||
【主权项】：
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