[实用新型]一种DRAM芯片检测用基座有效
申请号: | 202023214155.5 | 申请日: | 2020-12-28 |
公开(公告)号: | CN213844766U | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 张仪 | 申请(专利权)人: | 深圳市八全通科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/08 | 分类号: | G11C29/08 |
代理公司: | 深圳驿航知识产权代理事务所(普通合伙) 44605 | 代理人: | 孙小丁 |
地址: | 518000 广东省深圳市西乡街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种DRAM芯片检测用基座,包括支撑底座,所述支撑底座的上表面活动安装有活动转板,所述活动转板的上表面圆心处固定安装有调位旋钮,所述组合装置包括安装支板、组合滑槽、第二吸附磁块和导向滑块,所述组合装置的表面活动安装有第一装夹座,所述组合装置的表面位于第一装夹座的一侧活动安装有第二装夹座。本实用新型所述的一种DRAM芯片检测用基座,属于基座领域,活动转板通过转轴和轴承在支撑底座上方转动,从而待检测芯片逐个移到前部区域进行检测,一次装夹多个芯片,有利于提高检测效率,可以根据芯片尺寸对第一装夹座及第二装夹座进行更换,适应对不同尺寸芯片进行装夹并检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 dram 芯片 检测 基座 | ||
【主权项】:
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