[实用新型]一种测试效果好的半导体器件用固定测试组件有效
| 申请号： | 202023280507.7 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN214953634U | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 闵哲 | 申请（专利权）人： | 苏州朗之睿电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246 | 代理人： | 朱斌兵 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种测试效果好的半导体器件用固定测试组件，包括陶瓷固定座和测试片组件；待测芯片设置在陶瓷固定座上；测试片组件的一端引脚与陶瓷固定座上的待测芯片电连接，另一端引脚与测试PCB基板电连接；测试片组件包括对称设置的两个测试片机构；测试片机构包括测试片固定座、测试片组和固定板；测试片组固定在测试片固定座内；固定板盖在测试片固定座上，用于限位测试片组；整体配合精度较高，保证和提高了测试的可靠性及有效性；悬浮式陶瓷定位结构，保证了整个固定测试组件在使用过程更加稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 效果 半导体器件 固定 组件 | ||
【主权项】：
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