[发明专利]高速输入/输出裕度测试的系统、方法和设备在审
申请号: | 202080011816.8 | 申请日: | 2020-01-31 |
公开(公告)号: | CN113396396A | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | S·R·贝恩;D·S·弗雷利奇;S·A·哈扎德;J·H·安德鲁斯 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | G06F11/273 | 分类号: | G06F11/273;G01R31/317;H04L12/26 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李雪娜;刘春元 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用于高速I/O裕度测试的系统、设备和方法可以筛选大量的预生产和生产部件,并且识别电特性已经改变到足以影响操作的情况。所公开的裕度测试仪比传统的BERT和示波器成本更低、更易于使用并且更快,并且可以在具有满负载和串扰的其标准操作状态下在全部多通道I/O链路上操作。裕度测试仪在任一方向或两个方向上同时评估受测设备的操作多通道高速I/O链路的电接收器裕度。在一种针对特定技术的形式中,裕度测试仪的实施例可实现为插入卡裕度测试仪以测试受测主板的主板插槽,或实现为具有插槽的主板以测试插入卡。 | ||
搜索关键词: | 高速 输入 输出 测试 系统 方法 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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