[发明专利]光设备、光检测系统及其制造方法在审
申请号: | 202080023408.4 | 申请日: | 2020-02-07 |
公开(公告)号: | CN113614571A | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 野村幸生;佃雅彦;稻田安寿 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01S17/89 | 分类号: | G01S17/89;G01S17/894;G02B6/122;G02B6/12;G02B6/124;G02B6/13;G02B6/34;G02B6/42;G01S7/481;G02F1/13;G02F1/1339;G02F1/295 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 安香子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 光设备具备:第1基板,具有第1表面;第2基板,具有与上述第1表面至少局部地对置的第2表面;至少1个光波导,在上述第1基板与上述第2基板之间沿着上述第1方向延伸;以及多个弹性间隔件,配置于上述第1表面及上述第2表面的至少一方,包括第1部分及第2部分。上述多个弹性间隔件的上述第1部分是位于上述第1基板与上述第2基板之间而且从与上述第1表面垂直的方向观察时上述第1基板与上述第2基板重叠的区域中的至少1个弹性间隔件。上述多个弹性间隔件的上述第2部分是位于从与上述第1表面垂直的方向观察时上述第1基板与上述第2基板不重叠的区域中的至少1个弹性间隔件。 | ||
搜索关键词: | 设备 检测 系统 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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