[发明专利]共模抑制比测试系统和方法在审
| 申请号： | 202080024156.7 | 申请日： | 2020-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN113614546A | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | S·M·古拉斯;Z·K·托马斯 | 申请（专利权）人： | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 魏利娜 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种电子器件测试系统(100)包括具有探针对的接触器(110)，其中第一导电探针和第二导电探针耦合到封装的电子器件(160)的相应导电特征部(161、162、163、164、165、166、167、168)或晶圆管芯区域。系统(100)还包括测试电路(101)，该测试电路(101)具有：电压源(102)，其用于提供共模电压信号(VCM)；第一缓冲器(130)，其第一输入端(131)耦合到电压源(102)的输出端(103)，输出端(133)耦合到第一探针对(112/122)的第一导电探针(112)，以及第二输入端(132)耦合到第一探针对(112/122)的第二导电探针(122)；以及第二缓冲器(140)，其第一输入端(141)耦合到电压源(102)的输出端(103)，输出端(143)耦合到第二探针对(113/123)的第一导电探针(113)，以及第二输入端(142)耦合到第二探针对(113/123)的第二导电探针(123)。 | ||
| 搜索关键词： | 抑制 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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