[发明专利]电路特性测定系统及电路特性测定方法在审
| 申请号： | 202080067185.1 | 申请日： | 2020-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN114502967A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 名仓彻;鸙野俊寿;山下宗寛;吉泽正充 | 申请（专利权）人： | 学校法人福冈大学;日本电产理德股份有限公司;野田网印株式会社 |
| 主分类号： | G01R27/28 | 分类号： | G01R27/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨芳;黄健 |
| 地址： | 日本福冈县福冈市城南区七隈*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的电路特性测定系统1包括：信号电压发生电路2，对测定对象的被测定电路51依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及基准频率的整数倍的频率；测定电路3，依序测定因对被测定电路51依序施加所述周期电压信号而在被测定电路51中产生的信号的功率；以及传递函数算出部42，使用预先设定的数式、根据由测定电路3测定出的多个功率来算出被测定电路51的传递函数H、H2，所述周期电压信号包含高阶频率分量。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 特性 测定 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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