[发明专利]长条光学层叠体的检查方法以及检查系统在审
| 申请号： | 202080085745.6 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN114846320A | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 三笠康之;松林恭平;田壶宏和;村上洋介;神丸刚 | 申请（专利权）人： | 日东电工株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢辰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜的第一识别信息和打印在长条光学层叠体的第二识别信息双方。包括：第一工序，其检查第一长条光学膜(F1)而取得第一缺陷信息；第二工序，其在第一长条光学膜打印第一识别信息(M)；第三工序，其将第一缺陷信息与第一识别信息关联地存储；第四工序，其检查层叠有第一长条光学膜的长条光学层叠体(F2)而取得第二缺陷信息；第五工序，其在长条光学层叠体打印第二识别信息；第六工序，其将第二缺陷信息与第二识别信息关联地存储；第一识别信息以及第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。 | ||
| 搜索关键词： | 长条 光学 层叠 检查 方法 以及 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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