[发明专利]核反应导致的SEE截面的获取方法、装置、设备及介质有效
| 申请号： | 202110010348.9 | 申请日： | 2021-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN112668232B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 韩金华;郭刚;张艳文;陈启明 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G06F30/25 | 分类号： | G06F30/25 |
| 代理公司： | 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 | 代理人： | 王鹏鑫 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种核反应导致的SEE截面的获取方法、装置、设备及介质。其中，该核反应导致的SEE截面的获取方法，应用于微电子器件的核反应导致的单粒子效应的检测，其中，包括：获取次级粒子LET谱；获取重离子SEE截面；以及根据次级粒子LET谱和重离子SEE截面获取核反应导致的SEE截面。因此，本公开实施例的核反应导致的SEE截面的获取方法可以实现通过重离子SEE截面预估核反应导致的SEE截面的理论预测，不仅适用于质子、中子等与硅核反应起主导作用的较低LET阈值器件，同时也适用于与高Z材料核反应起主导作用的高LET阈值器件等一般情形，解决了传统BGR方法无法针对高LET阈值器件，获取精确的核反应导致的SEE截面的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 核反应 导致 see 截面 获取 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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