[发明专利]型材缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110011670.3 | 申请日： | 2021-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN114720499A | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 姜海涛;邢辉;张佼;陆树生 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学;昆山晶微新材料研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2251 | 分类号： | G01N23/2251;G01N23/2055;G01N23/203;G01N23/20058;G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 钟扬飞 |
| 地址： | 200030 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种型材缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质，本申请的型材缺陷检测方法包括：获取具有缺陷的型材微观组织图；根据所述具有缺陷的型材微观组织图，分析得到缺陷检测结果；根据所述缺陷检测结果，确定项目检测顺序；根据所述项目检测顺序，进行所述型材的缺陷成因判断流程。故本申请能够改善型材缺陷检测方法，改良型材制造工艺，从而提高了型材质量。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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