[发明专利]一种阻变存储器的故障测试方法有效
| 申请号： | 202110012792.4 | 申请日： | 2021-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN112750486B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 蒋海军;杨建国;刘琦 | 申请（专利权）人： | 之江实验室 |
| 主分类号： | G11C13/00 | 分类号： | G11C13/00;G11C29/10 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 孙孟辉 |
| 地址： | 310023 浙江省杭州市余*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及新型存储芯片RRAM测试技术领域，具体涉及一种阻变存储器的故障测试方法，该方法首先扫描所有的存储单元，检测出所有的故障存储单元，并标记为一级故障类型，然后依次扫描一级故障类型里的故障存储单元，标记为二级故障类型，最后输出所有存储单元故障类型一览表。本发明可以检测出阻变存储器存储单元的主要故障类型，且检测时间短，检测故障类型准确可靠，降低了阻变存储器检测故障的错判率，提高了阻变存储器的故障测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 故障测试 方法 | ||
【主权项】：
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