[发明专利]应用于高精度逐次逼近型ADC的电容失配和失调电压校正方法有效
| 申请号： | 202110017809.5 | 申请日： | 2021-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN112803946B | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 何乐年;张啸蔚;郝允强;奚剑雄 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10;H03M1/46 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 王琛 |
| 地址： | 310013 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用于高精度逐次逼近型ADC的电容失配和失调电压校正方法，该方法在传统SAR ADC结构的基础上增加了校正DAC以及对应的逻辑控制电路，在芯片上电一段时间内，通过对校正DAC和主DAC的开关控制，计算、存储电容失配和比较器失调的信息，并在正常工作模式中，将存储器中的偏差信息读入到校正DAC中，以模拟量的形式对偏差进行补偿。本发明方法包含了对每一位电容失配的校正以及比较器失调校正，可以通过改变校正DAC的电容规模，改变校正的精度，使其符合高精度SAR ADC的设计需求，可以广泛应用于高精度SAR ADC的电路设计。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 高精度 逐次 逼近 adc 电容 失配 失调 电压 校正 方法 | ||
【主权项】：
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