[发明专利]内嵌式存储器系统与存储器测试方法在审
| 申请号： | 202110018675.9 | 申请日： | 2021-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN114743584A | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 陈衍彬 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 毕长生;魏宇明 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 内嵌式存储器系统包括内嵌式存储器电路以及主控端电路。内嵌式存储器电路用以存储查找表。主控端电路用以利用具有多个相位的一测试时钟信号以及内嵌式存储器电路的一程序的多个指令对内嵌式存储器电路进行测试，并记录所述指令中每一个与所述相位之间的一对应关系，以产生查找表。 | ||
| 搜索关键词： | 内嵌式 存储器 系统 测试 方法 | ||
【主权项】：
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