[发明专利]NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202110034474.8 | 申请日： | 2021-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN112802530A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 孙成思;孙日欣;童海涛 | 申请（专利权）人： | 成都佰维存储科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04;G11C29/10 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 欧阳燕明 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，先对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，再对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，最后对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并且在测试过程的每一阶段都进行坏块的筛选，通过在NAND的RDT测试中增加copyback命令操作的测试模式，使NAND中经过常规测试的数据块再以copyback命令操作的测试模式进行数据块的擦写读操作，从而能够将常规筛选无法识别的坏块和弱块识别出来，使得主控可以支持质量等级差的NAND，同时提升SSD的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | nand 测试 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都佰维存储科技有限公司，未经成都佰维存储科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110034474.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
