[发明专利]一种多紧缩场测量系统和方法有效
| 申请号： | 202110053296.3 | 申请日： | 2021-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN112867045B | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 王志勤;潘冲;张宇;魏贵明;吴翔;任宇鑫;王飞龙;乔尚兵;杨晓航;张翔 | 申请（专利权）人： | 中国信息通信研究院 |
| 主分类号： | H04W24/06 | 分类号： | H04W24/06 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 南霆 |
| 地址： | 100191 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种多紧缩场测量系统，包括微波暗室和位于微波暗室内的第一反射面、第二反射面、第一直线导轨、第二直线导轨、第一反射面方位转轴、第二反射面方位转轴；第一反射面方位转轴驱动第一反射面转动，并与第一直线导轨连接，使第一反射面沿第一直线导轨运动；第二反射面方位转轴驱动第二反射面转动，并与第二直线导轨连接，使第二反射面沿第二直线导轨运动；第一直线导轨和第二直线导轨的延长线相交；以测试点为中心移动第一反射面和第二反射面，产生多个方位的来波，生成覆盖测试点的紧缩场静区。本申请还包含使用所述系统进行多紧缩场测量的方法。本申请的方案有效降低毫米波设备测量的成本，提高测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 紧缩 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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