[发明专利]一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备有效
| 申请号： | 202110086583.4 | 申请日： | 2021-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN112783705B | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 宋玉超;邓刚桥;吴文鸣 | 申请（专利权）人： | 展讯通信（天津）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 焦志刚 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区自贸*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备。方法包括：获取待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息，其中，所述待测试AI芯片的电压以及频率被设定为测试电压/频率设定组合；根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中，当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。根据本申请一实施例的方法，可以简单快速的对AI芯片进行测试，判断AI芯片的电压/频率设置组合是否合理；本申请实施例的方法流程简单，实现难度低，具有很高的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 装置 系统 芯片 电子设备 | ||
【主权项】：
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