[发明专利]一种测试失效的测试向量的定位方法在审
| 申请号： | 202110089974.1 | 申请日： | 2021-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN112767991A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 蔺华妮;王磊 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种测试失效的测试向量的定位方法，包括以下步骤：将测试向量集分成多个逻辑分段，并在部分逻辑分段前加入虚拟标记位向量，虚拟标记位向量后的第一个测试向量为起始测试向量；将具有虚拟标记位向量的逻辑分段的测试向量加载到待测器件上完成测试，并将测试结果在位图中示出；以及通过起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址。本发明通过虚拟标记位后的起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址，实现了定位了失效的测试向量在测试向量集中的位置，使得调试的工作可以很容易的进行。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 失效 向量 定位 方法 | ||
【主权项】：
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