[发明专利]一种单片三维集成器件和单片三维集成电路在审

专利信息
申请号: 202110129641.7 申请日: 2021-01-29
公开(公告)号: CN114823715A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 刘凡宇;张军军;李博;滕瑞;刘海南;赵发展 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L27/13
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 房德权
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及三维集成电路技术领域,具体涉及一种单片三维集成器件和单片三维集成电路。该单片三维集成器件中,配置层中设有一个或多个电子元件;第一埋氧层远离配置层的一侧还设置有金属‑氧化物半导体场效应MOSFET器件和配置层电极组;配置层电极组包括一个或多个电极;第一埋氧层中设有与一个或多个电极一一对应的导电通路;电极通过第一埋氧层中与其对应的导电通路连接配置层中与电极对应的电子元件的一端。本发明提供的单片三维集成器件采用单片堆叠方式,继承了SOI技术,提高了电路的集成度,同时单片三维集成器件设有两层埋氧层实现双层隔离,能够有效抑制衬底层对MOSFET器件的影响,从而提高了三维集成电路的可靠性。
搜索关键词: 一种 单片 三维 集成 器件 三维集成电路
【主权项】:
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