[发明专利]一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 202110136762.4 | 申请日： | 2021-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN112957012B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 王敬涛;王正义;彭建华;张林涛 | 申请（专利权）人： | 浙江省医疗器械检验研究院 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;A61B3/10;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京彩和律师事务所 11688 | 代理人： | 刘磊;闫桑田 |
| 地址： | 310018 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置包括光学基准板和光学参考板，其中所述光学基准板和所述光学参考板之间的夹角为0.1度至0.5度。本发明还涉及一种使用所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置的光学干涉断层成像系统轴向分辨率的测量方法。本发明的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量方法通过一次扫描便可以得到系统的实际轴向分辨率，而无需反复调整空气隙实际宽度来无限逼近系统实际分辨率，因此具有操作简单、快速的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 干涉 断层 成像 系统 轴向 分辨率 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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