[发明专利]半导体存储器装置和半导体存储器装置的操作方法在审
| 申请号： | 202110154376.8 | 申请日： | 2021-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN114115704A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 洪龙焕;金炳烈 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 刘久亮;黄纶伟 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种半导体存储器装置和半导体存储器装置的操作方法。根据一个实施方式，一种半导体存储器装置包括：多个存储器块，其包括第一保证块至第m保证块，其中，m为大于1的整数；修复逻辑，其被设置为通过检测第一保证块至第m保证块当中的缺陷存储器块来生成坏块信息并基于坏块信息确定分别与第一保证块至第m保证块相对应的第一偏移值至第m偏移值；以及地址解码器，其被设置为当块地址与第一保证块至第m保证块中的任何一个相对应时通过将从第一偏移值至第m偏移值中选择的偏移值反映到块地址上来生成块选择地址，并且当块地址与除第一保证块至第m保证块之外的任何一个存储器块相对应时通过将第m偏移值反映到块地址上来生成块选择地址。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储器 装置 操作方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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