[发明专利]光器件和测试光器件的方法有效
| 申请号： | 202110181476.X | 申请日： | 2021-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN113325513B | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 杉山昌树 | 申请（专利权）人： | 富士通光器件株式会社 |
| 主分类号： | G02B6/122 | 分类号： | G02B6/122;G02B6/124;G01R31/311;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 刘久亮;黄纶伟 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及光器件和测试光器件的方法。一种光器件，该光器件在晶圆上通过切割而从该晶圆切割成芯片，该光器件包括：多个光波导；连接到光波导的光电路；以及多个光波导中的测试光波导，其通过绕过用于安装光芯片组件的平台处的未连接的光波导部分来将测试光引导至待测试的光电路。 | ||
| 搜索关键词： | 器件 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通光器件株式会社，未经富士通光器件株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110181476.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
