[发明专利]电子元器件缺陷检测方法、装置及系统在审
| 申请号： | 202110195319.4 | 申请日： | 2021-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN112950560A | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 孙宸;成立业;黄云;陈媛;恩云飞;路国光;王力纬 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G06F16/58;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐敏 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开关于一种电子元器件缺陷检测方法、装置及系统。一个方法实施例中，可以自动检测电子元器件的缺陷，输出缺陷检测结果，可以提高电子元器件缺陷检测的速度。并且，由于公开实施例中，缺陷检测时采用了缺陷检测模型识别出不同的缺陷类型，针对不同的缺陷类型选择更加匹配的缺陷尺寸计算方式，缺陷尺寸计算可以实现对缺陷区域的量化计算，可以减少误判，提高电子元器件缺陷的检测准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 缺陷 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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