[发明专利]自动分析装置在审
| 申请号： | 202110202842.5 | 申请日： | 2021-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN113466475A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 佐藤摘步实;川上理美;井口晃弘;茂手木尚哉 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 熊风;宋俊寅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种使校准的测定结果的可靠性提高的自动分析装置。对检体进行分析的自动分析装置包括：分析部，其在进行用于校准的测定之后分析所述检体；存储部，其存储累积数据，所述累积数据是对所述校准的测定结果进行累积而得的数据；计算部，其基于所述累积数据来计算用于判定校准的测定结果是否为异常的允许范围；以及显示部，其显示所述允许范围。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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