[发明专利]用于存储器装置的测试方法和测试装置的操作方法在审
| 申请号： | 202110213741.8 | 申请日： | 2021-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN113312229A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 李桢赫 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 赵南;张青 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于包括多个存储器单元的存储器装置的测试方法包括：生成第一测试图案；执行将第一测试图案写入多个存储器单元中的第一图案写操作；从写入有第一测试图案的多个存储器单元读取第一数据；基于第一数据生成第二测试图案；以及执行将第二测试图案写入多个存储器单元中的第二图案写操作。第二测试图案被生成，使得在第二图案写操作期间针对多个存储器单元当中的发生写故障的故障单元写操作被跳过。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储器 装置 测试 方法 操作方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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