[发明专利]半导体封装装置及其制造方法在审
申请号: | 202110214658.2 | 申请日: | 2021-02-25 |
公开(公告)号: | CN113013136A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 吕文隆 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L21/48 |
代理公司: | 北京植德律师事务所 11780 | 代理人: | 唐华东 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本公开提供了半导体封装装置及其制造方法,通过在基板和FO层之间设置间隔物,实现了在基板表面焊垫高度变化较大(例如均匀度大于20%)、以及可能出现翘曲的情况下,都能提高FO层与基板之间的连接可能性。以及通过利用导电孔连接FO层和基板,而不是利用导电柱连接,由于导电孔(Conductive)相对于导电柱(Pillar)在制程上更容易控制精细度,避免了现有技术中采用导电柱可能会出现的冷焊、导电柱损坏或变形以及键合面积减小的问题。即,整体上可以提高产品良率。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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