[发明专利]一种芯片测试用探针和芯片测试装置有效
| 申请号： | 202110231417.9 | 申请日： | 2021-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN113009196B | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 顾培东;蒋卫兵 | 申请（专利权）人： | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试用探针和芯片测试装置，芯片测试用探针包括探针保持体，设置在插座壳体中，于所述探针保持体的一端开设有安装孔；第一弹簧，所述第一弹簧穿设在所述安装孔中，所述第一弹簧的一端与所述安装孔的底面抵接；探针针头，一端穿设在所述安装孔中，且与所述第一弹簧的另一端抵接，所述探针针头的另一端相对所述插座壳体上的探针孔伸出，所述探针针头能够沿所述安装孔的轴向往复移动；第二弹簧，套设在所述探针保持体上，且一端能够与所述探针保持体抵接，另一端与所述插座壳体抵接。本发明够保证探针保持体与插座壳体稳定接触，从而满足测试要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 探针 装置 | ||
【主权项】：
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