[发明专利]一种基于透射电镜定量分析纳米塑料颗粒的方法在审

专利信息
申请号: 202110262533.7 申请日: 2021-03-10
公开(公告)号: CN113049852A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 张银萍;吴仕希 申请(专利权)人: 南京师范大学
主分类号: G01Q30/20 分类号: G01Q30/20;G01Q30/04
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 孙斌
地址: 210024 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于透射电镜定量分析纳米塑料颗粒的方法,该方法包括如下步骤:将样品进行稀释超声分散,滴在支持膜上,得到各类待检测样品;通过透射电镜首先对待检测样品进行定性分析;通过透射电镜对待检测样品进行定量分析;对其内存在的纳米塑料颗粒进行统计计算纳米塑料颗粒的个数。本发明借助透射电子显微镜,结合TEM的能谱技术,在EDS模式,定性分析完成后便可进行统计和定量分析,运用该定量分析方法所统计得到的纳米塑料颗粒个数与标准原值偏差在10倍以内,符合统计学方法的原则。该方法简单,操作便捷,耗时短,具有很好的实用性和可重复性,是一种可对各类溶液里的纳米塑料颗粒进行定量分析的可靠方法。
搜索关键词: 一种 基于 透射 定量分析 纳米 塑料颗粒 方法
【主权项】:
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