[发明专利]芯片测试方法、系统及可读存储介质在审
| 申请号： | 202110267466.8 | 申请日： | 2021-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN113203935A | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 梁小江;连光;陆钺;蒲莉娟 | 申请（专利权）人： | 江西创成微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市君之泉知识产权代理有限公司 44366 | 代理人： | 吕战竹 |
| 地址： | 343000 江西省吉安*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片测试方法、系统及可读存储介质，系统包括上位机和测试板，测试板上搭载有基础芯片；方法包括：建立基础芯片与上位机之间的通信连接，并向基础芯片下载预定的功能程序，形成待测芯片；上位机将从内核支持文件库和测试验证程序库中选择配置的内核支持文件和测试验证程序，添加到固有程序模块，形成与待测芯片对应的测试程序下发到待测芯片，并在接收到配置参数时，将配置参数生成为测试用例；待测芯片驱动测试程序和功能程序运行，并根据上位机下发的测试用例，启动测试程序内测试验证程序的测试任务，对待测芯片运行功能程序实现的功能进行测试。本发明提高了测试代码的生成效率，有利于快速实现芯片设计的完整性验证。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 系统 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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