[发明专利]一种照明光路、缺陷检测装置及光强测量方法在审

专利信息
申请号: 202110274241.5 申请日: 2021-03-15
公开(公告)号: CN113008798A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 张雨茜;敖海林 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/95
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 周耀君
地址: 201315*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种照明光路、缺陷检测装置及光强测量方法,所述照明光路包括光源和斜射光路,斜射光路的末端设有用于测量光强的光强测量装置,光强测量装置包括探头和探头支架;探头安装于探头支架上,探头支架位于斜射光路的末端;探头支架与一驱动件相连,驱动件用于控制探头支架的转向;当缺陷检测装置处于工作状态时,在驱动件的作用下,探头偏离所述照明光路;当需要测量斜射光路的末端的光强时,在驱动件的作用下,光源发射的光线能够经斜射光路达到探头。本发明提供的光强测量装置避免了手动测量光强,达到了自动化测量光强的目的,既减少了停止设备测量光强的时间,提高了设备的运行效率,又能够直接在设备外对检测到的光强进行读数。
搜索关键词: 一种 明光 缺陷 检测 装置 测量方法
【主权项】:
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