[发明专利]一种照明光路、缺陷检测装置及光强测量方法在审
申请号: | 202110274241.5 | 申请日: | 2021-03-15 |
公开(公告)号: | CN113008798A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 张雨茜;敖海林 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/95 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 周耀君 |
地址: | 201315*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种照明光路、缺陷检测装置及光强测量方法,所述照明光路包括光源和斜射光路,斜射光路的末端设有用于测量光强的光强测量装置,光强测量装置包括探头和探头支架;探头安装于探头支架上,探头支架位于斜射光路的末端;探头支架与一驱动件相连,驱动件用于控制探头支架的转向;当缺陷检测装置处于工作状态时,在驱动件的作用下,探头偏离所述照明光路;当需要测量斜射光路的末端的光强时,在驱动件的作用下,光源发射的光线能够经斜射光路达到探头。本发明提供的光强测量装置避免了手动测量光强,达到了自动化测量光强的目的,既减少了停止设备测量光强的时间,提高了设备的运行效率,又能够直接在设备外对检测到的光强进行读数。 | ||
搜索关键词: | 一种 明光 缺陷 检测 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司,未经上海华力微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110274241.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于石墨烯加热板的切割设备
- 下一篇:雷电隔离引下线系统