[发明专利]半导体器件及制作方法有效

专利信息
申请号: 202110274455.2 申请日: 2021-03-15
公开(公告)号: CN113066853B 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 朱袁正;周锦程;叶鹏;杨卓;刘晶晶 申请(专利权)人: 无锡新洁能股份有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L27/02
代理公司: 无锡市兴为专利代理事务所(特殊普通合伙) 32517 代理人: 屠志力
地址: 214000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种半导体器件,包括:P型衬底,在P型衬底上设有N型掺杂外延层,在N型掺杂外延层上设有高压区和低压区,在高压区与低压区之间设有高低压结终端区,在低压区和高低压结终端区之间设有第一P型隔离柱,在高压区和高低压结终端区之间设有第二P型隔离柱,在第一P型隔离柱上连接第二P型隔离柱,所述第一P型隔离柱和第二P型隔离柱形成一个或多个封闭区域,高压器件设置在所述封闭区域中。所述高压器件为JFET器件、LDMOS器件、LIGBT器件、功率二极管器件中的一种或多种。本发明提高了芯片面积的利用率,从而降低了集成电路的成本。
搜索关键词: 半导体器件 制作方法
【主权项】:
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