[发明专利]一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备在审
| 申请号： | 202110275125.5 | 申请日： | 2021-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN112882946A | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 陈岚;郭潇蔚;王志鹏 | 申请（专利权）人： | 中科芯云微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 陈志海 |
| 地址： | 266101 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备，从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。对参数化单元的属性信息进行代码编辑，得到参数化单元的版图描述文件，其中，版图描述文件用于指示参数化单元的版图的格式要求。基于版图描述文件生成虚拟库，在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下，从虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图，组建测试版图，并利用测试版图进行PDK测试。由于参数化单元的版图的格式满足版图描述文件所指示的格式要求，因此，生成测试版图所消耗的时间会有所限制。可见，利用本申请所述的方法，能够有效提高PDK测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pdk 测试 优化 方法 装置 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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