[发明专利]显示面板残影风险评估方法及显示面板在审
| 申请号： | 202110284315.3 | 申请日： | 2021-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN113075806A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 罗国仁 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 张晓薇 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种显示面板残影风险评估方法及显示面板，该显示面板残影风险评估方法通过测量显示面板中液晶的介电系数，确定介电系数是否小于或等于介电阈值，在介电系数小于或等于介电阈值时，判定该显示面板存在残影风险，从而对显示面板的残影风险进行有效预测，为改善产品良率提供指导；本申请通过将显示面板中液晶的介电系数控制为大于介电阈值，大大降低了显示面板出现残影缺陷的风险，提高了产品品质和良率。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 面板 风险 评估 方法 | ||
【主权项】：
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