[发明专利]液晶面板的色斑修复方法及所用系统测试架构与DE-MURA设备在审
| 申请号： | 202110290650.4 | 申请日： | 2021-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN113035099A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 黄浩 | 申请（专利权）人： | 深圳市联测光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司： | 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 | 代理人： | 梁静 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种液晶面板的色斑修复方法，用于在一次点灯检查(CT1)后直接对面板的色斑缺陷进行判断与获取修补值，包括如下步骤；在一次点灯检查(CT1)增加图像采集单元判断面板的亮度均匀状况，确定面板是否要做色斑缺陷修复(De‑mura)，针对需要做De‑mura的面板进行De‑mura处理，并获得修补值；之后，对面板依次进行偏光片贴附和二次点灯复检(CT2)。该方法将De‑mura移至一次点灯检查站点进行处理，改善电路PCBA板利用测试点扎针做De‑mura良率低的问题。同时，通过确定面板是否要做De‑mura，针对需要做De‑mura的面板进行De‑mura处理；可区分出正常面板用量产物料与低规面板用低成本物料，大大降低了物料成本，可节省的有偏光片、驱动芯片和电路板。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶面板 修复 方法 所用 系统 测试 架构 de mura 设备 | ||
【主权项】：
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