[发明专利]一种Microled或Miniled缺陷检测方法及装置有效
| 申请号： | 202110293987.0 | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN112798235B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 范景洋;洪志坤;夏珉;欧昌东;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01N21/95 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种Microled或Miniled缺陷检测方法及装置，其设置与待测试模组对应的波长选择模块、聚焦模块和探测模块，波长选择模块、聚焦模块和探测模块分别设置有与待测试Microled或Miniled的发光基本单元一一对应的波长选择单元、聚焦单元和探测单元；利用波长选择单元选择性透射发光基本单元出射的一个或多个不同波段范围的光至聚焦单元的不同子单元，通过将聚焦单元的不同子单元所接收到的光聚焦至探测单元的不同子单元，通过探测单元不同子单元的光强探测数据得到发光基本单元出射的对应不同波段范围的光的光强数据，实现对Microled或Miniled上每一个发光基本单元对应多个不同波段范围的光强特性的快速高效检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 microled miniled 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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