[发明专利]半导体装置以及半导体装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 202110295792.X 申请日: 2021-03-19
公开(公告)号: CN113451262A 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 古川贵光 申请(专利权)人: 拉碧斯半导体株式会社
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;金雪梅
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供半导体装置以及半导体装置的制造方法。防止布线的宽度减少等不良情况的产生。半导体装置具备:半导体基板;种子层,形成在上述半导体基板上;以及布线,形成在上述种子层上,该布线包含拉开间隔排列的并列部分,并且在该并列部分形成沿上述并列的排列方向贯通的贯通路径。
搜索关键词: 半导体 装置 以及 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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