[发明专利]基于超像素的柔性IC基板变色缺陷检测方法和装置有效
| 申请号： | 202110300079.X | 申请日： | 2021-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN112991302B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 胡跃明;程艳 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学;广州现代产业技术研究院 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/90;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/187 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 郑浦娟 |
| 地址： | 511458 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于超像素的柔性IC基板变色缺陷检测方法和装置，包括步骤：获取要检测变色缺陷的柔性IC基板源图像；对柔性IC基板源图像进行预处理；将分割之后得到的超像素图像输入能量函数判定柔性IC基板变色缺陷。本发明方法针对于要检测缺陷的柔性IC基板源图像，针对于预处理后提取ROI区域的图像，进行超像素图像的分割，以分割得到的超像素图像为基础，通过能量函数判定柔性IC基板变色缺陷，可以快速、准确以及全面的提取出柔性IC基板中的变色缺陷，避免由于变色缺陷位于边缘或者变色区域过大，导致变色缺陷误判的现象。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 像素 柔性 ic 变色 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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