[发明专利]芯片的测试方法在审
| 申请号： | 202110314426.4 | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN113075531A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 索鑫 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/067 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片的测试方法，包括：提供一芯片，选中所述芯片的任一模拟参数中的至少两个修调档位，测量得到每个选中的所述修调档位对应的模拟量；根据选中的所述修调档位及其对应的所述模拟量进行曲线拟合，以得到所述模拟参数的拟合公式；将所述模拟参数中未选中的所述修调档位带入所述拟合公式中，以得到未选中的所述修调档位对应的模拟量；根据所述芯片对应的所述模拟参数中的目标模拟量，在所述模拟参数中的所有修调档位对应的模拟量中找到所述目标模拟量以及所述目标模拟量对应的目标修调档位。本发明以解决现有技术中芯片的模拟参数修调效率和修调精度不能同时兼顾的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
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