[发明专利]导电粒子的检测方法在审
| 申请号： | 202110319251.6 | 申请日： | 2021-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN113112396A | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 戴斌宇;熊星;张操 | 申请（专利权）人： | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T3/00 | 分类号： | G06T3/00;G06T3/60;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/64;G06K9/20 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 仝丽 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及ACF导电粒子压合检测技术领域，公开了一种导电粒子的检测方法，包括采集导电粒子图像，所述导电粒子图像中包括标记图形和目标区域；所述标记图形用于定位所述目标区域；根据所述标记图形和所述目标区域的相对位置关系，获取所述导电粒子图像中的目标区域图像；确定所述目标区域图像中凸点区域的边缘，并对所述目标区域图像进行划分获取凸点区域图像；查找所述凸点区域图像中的导电粒子；统计并输出所述导电粒子的检测结果。通过两次定位来精准地分割导电粒子图像中的凸点区域，并对凸点区域内的导电粒子进行检查，可以有效减少图像偏移对检测结果的影响，提高导电粒子的检测精度及检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 导电 粒子 检测 方法 | ||
【主权项】：
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