[发明专利]电阻映射装置、电阻测定装置、电阻测定方法、程序以及记录介质在审
| 申请号： | 202110324394.6 | 申请日： | 2021-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN113495190A | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 田中章 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 徐殿军 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种能获得测定对象物的电阻分布的电阻映射装置、电阻测定装置、电阻测定方法、程序及记录介质。电阻映射装置具备：第一芯片，具有第一面以及位于第一面的相反侧的第二面，在第一面设有多个第一电极；第二芯片，具有与第一面对置的第三面以及位于第三面的相反侧的第四面，在第三面设有与多个第一电极对应的多个第二电极；以及测定部，与多个第一电极和多个第二电极电连接，在第一芯片与第二芯片之间配置有测定对象物的状态下，能够在测定对象物中测定多个第一电极和多个第二电极中的相互对应的各第一电极与第二电极之间的部分的电阻，取得使电阻的测定值与在测定对象物中与多个第一电极分别对应的位置相关联的映射数据。 | ||
| 搜索关键词： | 电阻 映射 装置 测定 方法 程序 以及 记录 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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