[发明专利]芯片测试中载入trim值的方法在审
| 申请号： | 202110346107.1 | 申请日： | 2021-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN113113072A | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 傅俊亮 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 焦健 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试中载入trim值的方法，针对存储器的存储单元，进行trimming bit值的写入，在进行trimming bit值的写入时，同时将一个trimming bit值写入到2个或者更多的存储单元中。在进行读取的时候，同时选中全部的写入所述的相同的trimming bit值的2个或更多个存储单元，由SA来判定所选中的全部的2个或更多的存储单元中存储的trimming bit值为“1”或者是为“0”，由于有更多的存储单元提供数据进行对比，提高了数据读取的窗口。存储单元中进行trimming bit值的写入时，还可以同时写入trimming bit值的反值，即原trimming bit值为“1”的情况下，同时写入其反值“0”；在读出数据时可进行读出后的相互比较验证。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 载入 trim 方法 | ||
【主权项】：
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