[发明专利]一种光器件老化测试装置和方法有效
| 申请号： | 202110351937.3 | 申请日： | 2021-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN113092074B | 公开（公告）日： | 2023-04-14 |
| 发明（设计）人： | 林楠;高繁荣;付永安 | 申请（专利权）人： | 武汉光迅科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 | 代理人： | 何婷 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及通信技术领域，提供了一种光器件老化测试装置和方法，装置包括温控系统、检测光路选择器和与所述检测光路选择器相连的光器件及检测光功率计；所述温控系统自动控制所述检测光路选择器、所述光器件和所述检测光功率计的工作温度；所述检测光路选择器用于控制将所述光器件发出的光接入到所述检测光功率计；所述检测光功率计用于实时记录和传输检测到的出光功率值。本发明通过温控系统保证光器件的出光功率值不受温度因素的影响，通过将光器件与检测光功率计连为一体，在线监控光器件的出光功率值变化，仅需一次插拔即可完成光器件的老化测试，无需多次插拔测量光器件老化前后的出光功率值，避免了多次插拔对光功率值变化的影响，提高了老化测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 器件 老化 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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