[发明专利]一种自动化芯片测试装置及方法在审
| 申请号： | 202110357072.1 | 申请日： | 2021-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN113064055A | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 姜仲平 | 申请（专利权）人： | 姜仲平 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京君恒知识产权代理有限公司 11466 | 代理人： | 张林 |
| 地址： | 154300 黑龙江省佳*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子元件测试设备技术领域，更具体的说是一种自动化芯片测试装置及方法，具有能对芯片的外侧进行清洁的优点，采用上述的一种自动化芯片测试装置测试芯片的方法，该方法包括以下步骤：S1：将芯片放置到多个摆放槽内，启动运输组件进行间断运输；S2：启动夹紧组件驱动转动组件带动两个清洁组件下降，驱动测试组件上升，对芯片进行性能的测试；S3：启动驱动组件和升降组件，实现清洁组件对芯片进行外部的清洁，检测芯片的外观。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动化 芯片 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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