[发明专利]一种偏光膜卷材良率的模拟方法有效
| 申请号： | 202110406246.9 | 申请日： | 2021-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN113155862B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 宋金波;严兵华;施明志;余镇宇 | 申请（专利权）人： | 恒美光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N1/28;G01B11/00 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人： | 杨林洁 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其主要用于生产偏光膜卷材时，通过自动光学检测系统生成的缺点数据，根据缺点在卷材的位置，缺点尺寸和严重度等模拟计算出特定裁切片材偏光片的良品率。本发明具有的有益效果为：自动模拟系统的良率准确度高，可根据模拟良率数据改善裁切方式，规避缺点分布较多的边侧，为后段物料处理提供闪边理论依据，有效提高实际产出的产品良率，同时与实际偏光膜的良率进行匹配，促进前后制程改善其制程工艺和操作手法，减少不必要的成品损失。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 偏光 卷材 模拟 方法 | ||
【主权项】：
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