[发明专利]一种集成IC检测系统有效
| 申请号： | 202110406398.9 | 申请日： | 2021-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN112974284B | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 胡冬 | 申请（专利权）人： | 四川明泰微电子有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司： | 成都诚中致达专利代理有限公司 51280 | 代理人： | 曹宇杰 |
| 地址： | 641100 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种集成IC检测系统，包括沿工作台的轨道槽输送方向依次设置的边框检测机构、缺陷检测机构；边框检测机构有一对，用于检测由传送带输送的集成IC塑封框架的边框断裂缺陷；缺陷检测机构包括：定位机构，用于将输送的集成IC塑封框架定位于缺陷检测机构的检测工位；缺陷检测组件，有多个，包括通过架体转轴转动设于架体的缺陷转杆以及与缺陷转杆上端连接的第二弹簧，第二弹簧另一端连接在架体上，缺陷转杆下端转动连接有缺损检测轮，缺陷转杆上部设有透光孔；缺陷传感器，有一对，匹配使用，缺陷检测组件位于缺陷传感器之间。实现全自动机械式检测塑封框架的边框和塑封体缺陷，精度高，效率高，不需要调试，结构简单，制备成本低，易于实施。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 ic 检测 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川明泰微电子有限公司，未经四川明泰微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110406398.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
