[发明专利]一种半导体单晶硅的拉晶炉在审
申请号: | 202110428621.X | 申请日: | 2021-04-21 |
公开(公告)号: | CN113061983A | 公开(公告)日: | 2021-07-02 |
发明(设计)人: | 姜益群 | 申请(专利权)人: | 姜益群 |
主分类号: | C30B15/20 | 分类号: | C30B15/20;C30B29/06 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 颜果 |
地址: | 310013 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种半导体单晶硅的拉晶炉,属于单晶硅生产技术领域。包括炉体、设置在炉体内的坩埚和加热器,炉体内设有梯度测温装置,炉体的底部设有温度测试仪;加热器设置在坩埚的外围,包括间隔一定距离上下布置的上加热器和下加热器,上加热器和下加热器的发热区高度为坩埚高度的1/4至1/2,且上加热器与下加热器的加热区之间间隔为50mm至坩埚高度的1/3。实现了坩埚内熔体的温度梯度和坩埚底部的温度的精准控制,从而获得了低缺陷密度低COP的高品质硅单晶,以及各类半导体硅器件对单晶氧含量的要求,并且硅单晶的品质的稳定性、一致性也得到极大的提升,为半导体硅单晶的晶体生长提供了有效的控制方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 单晶硅 拉晶炉 | ||
【主权项】:
暂无信息
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